X射线探伤仪的基本原理有哪些？当强度均匀的射线束透照射物体时，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异，它将改变物体对射线的衰减，使得不同部位透射射线强度不同，这样，采用一定的检测器（例如，射线照相中采用胶片）检测透射射线强度，就可以判断物体内部的缺陷和物质分布等。

射线探伤仪常用的方法有X射线探伤、γ射线探伤、高能射线探伤和中子射线探伤。对于常用的工业射线探伤来说，一般使用的是X射线探伤、γ射线探伤。

X射线是在高真空状态下用高速电子冲击阳极靶而产生的。γ射线是放射性同位素在原子蜕变过程中放射出来的。两者都是具有高穿透力、波长很短的电磁波。不同厚度的物体需要用不同能量的射线来穿透，因此要分别采用不同的射线源。例如由X射线管发出的X射线（当电子的加速电压为400千伏时），放射性同位素60Co所产生的γ射线和由 20兆电子伏直线加速器所产生的X射线，能穿透的钢材厚度分别约为90毫米、230毫米和600毫米。

X射线探伤装置的工作电压高达数万伏乃至数十万伏，作业时应注意高压的危险。工业射线照相探伤中使用的低能X射线机，简单地说是由四部分组成：射线发生器（X射线管）、高压发生器、冷却系统、控制系统。当各部分独立时，高压发生器与射线发生器之间应采用高压电缆连接。

X射线探伤仪的基本原理有哪些？当强度均匀的射线束透照射物体时，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异，它将改变物体对射线的衰减，使得不同部位透射射线强度不同，这样，采用一定的检测器（例如，射线照相中采用胶片）检测透射射线强度，就可以判断物体内部的缺陷和物质分布等。

射线探伤仪常用的方法有X射线探伤、γ射线探伤、高能射线探伤和中子射线探伤。对于常用的工业射线探伤来说，一般使用的是X射线探伤、γ射线探伤。

X射线是在高真空状态下用高速电子冲击阳极靶而产生的。γ射线是放射性同位素在原子蜕变过程中放射出来的。两者都是具有高穿透力、波长很短的电磁波。不同厚度的物体需要用不同能量的射线来穿透，因此要分别采用不同的射线源。例如由X射线管发出的X射线（当电子的加速电压为400千伏时），放射性同位素60Co所产生的γ射线和由 20兆电子伏直线加速器所产生的X射线，能穿透的钢材厚度分别约为90毫米、230毫米和600毫米。

X射线探伤装置的工作电压高达数万伏乃至数十万伏，作业时应注意高压的危险。工业射线照相探伤中使用的低能X射线机，简单地说是由四部分组成：射线发生器（X射线管）、高压发生器、冷却系统、控制系统。当各部分独立时，高压发生器与射线发生器之间应采用高压电缆连接。

射线探伤仪在玻璃工业中，一般使用硅砂、白云石、长石等多种原料，按照一定的配料比例混合熔化成玻璃液，射线探伤仪经过成型、退火、生产出各种玻璃产品。各种原料化学成分的含量，是进行配料计算的依据，在生产中药随时掌握原料化学成分的波动情况，及时调整配方，从而确保玻璃产品的质量稳定。玻璃产品的化学成分含量则反应玻璃的物理性质和化学稳定性，其中每个部分发生变化，不符合设计成分，都会影响玻璃产品的特性及质量，同时也会对玻璃生产过程中熔化、成型、退火造成影响。因此，在玻璃工业中，对原料及玻璃产品进行及时、准确的化学成分分析，起到重要作用。

射线探伤仪传统上对硅砂、白云石、玻璃等物质进行化学成分分析时，一般都是采用化学分析方法。化学分析方法的样品处理过程比较繁琐，操作步骤多，工作量大、比较容易产生人为误差，并且处理过程耗费时间长，尤其是要对原料和玻璃进行多方面的成分分析时，射线探伤仪需要1至2天甚至更长的时间才可以得出结果，造成进厂原料到货要花约一天的时间候化验结果。另一方面，原料、产品的分析结果滞后于生产。若改用仪器分析，则可提高检测效率，并且操作简单，结果准确，可避免操作过程中引入的人为误差。

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